DIN 41869-2-1973 半导体器件的外壳.34型外壳.主要尺寸

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 11:31:42   浏览:8839   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Cases34A2and34A3forsemiconductordevices;maindimensions
【原文标准名称】:半导体器件的外壳.34型外壳.主要尺寸
【标准号】:DIN41869-2-1973
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1973-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;半导体;行李箱;外壳;电气工程;设计;尺寸
【英文主题词】:electronicengineering;design;enclosures;semiconductors;dimensions;electricalengineering;cases
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_00
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语


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【英文标准名称】:Testmethodsforcolourfastnesstodaylight
【原文标准名称】:耐日光色牢度试验方法
【标准号】:JISL0841-2004
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2004-04-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonConsumerLifeProducts
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,染色した繊維製品の日光に対する染色堅ろう度を評価するための試験方法について規定する。
【中国标准分类号】:W70
【国际标准分类号】:59_080_01
【页数】:16P;A4
【正文语种】:日语


【英文标准名称】:StandardGuideforMeasuringandReportingFrictionCoefficients
【原文标准名称】:摩擦系数的测量和报告的标准指南
【标准号】:ASTMG115-2004
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:测量;摩擦;额定值;摩擦学
【英文主题词】:measurement;tribology;friction;ratings
【摘要】:
【中国标准分类号】:A53
【国际标准分类号】:17_040_20;19_060
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语